Publication list
M. Cwil, P. Konarski, J. Ciosek
Ion mass interferences and matrix effects on SIMS depth profiling of thin Ti/Si multilayer films induced
by hydrogen, carbon and oxygen contaminations
International Journal of Mass Spectrometry in press
M. Cwil, P. Konarski, W. Gulbinski, V.V. Uglov
SIMS depth profiling of thin nitride- and carbide- based films for hard coating
Reviews on Advanced Materials Science in press
M. Cwil, M. Igalson, P. Zabierowski, C.H. Kaufmann, A. Neisser
Capacitance profiling in the CIGS solar cells
Thin Solid Films in press
P. Zabierowski, C. Platzer-Bjorkman, M. Cwil
Electrical characterization of CIGSe based photovoltaic devices with Zn(O,S) and (Zn,Mg)O buffers
Proceedings of the 21st European Photovoltaic Solar Energy Conference, Dresden 2006 in press
M. Igalson, M. Cwil, M. Edoff
Metastabilities in the electrical characteristics of CIGS devices - experimental results
vs theoretical predictions
Thin Solid Films in press
P. Konarski, K. Kaczorek, M. Cwil, J. Marks
Quadrupole based glow discharge mass spectrometer – design and results compared to secondary ion mass spectrometry analyses
Vacuum in press
T. Bieniek, R.B. Beck, A. Jakubowski, P. Konarski, M. Cwil, P. Hoffmann,
D. Schmeisser
Formation of oxynitride layers in r.f. plasma planar reactor for future Si and SiC MOS structures
Journal of Wide Bandgap Materials in press
T. Bieniek, R.B. Beck, A. Jakubowski, P. Konarski, M. Cwil, P. Hoffmann,
D. Schmeisser
Composition and electrical properties of ultrathin SiON layers formed by r.f. plasma nitrogen implantation/plasma oxidation processes
Journal of Telecommunication and Information Technology in press
T. Bieniek, R. B. Beck, A. Jakubowski, G. Gluszko, P. Konarski, M. Cwil
Applying plasma shallow nitrogen implantation for dual gate oxide technology
Journal of Telecommunication and Information Technology (in press)
R. Mroczynski, G. Gluszko, R.B. Beck, A. Jakubowski, M. Cwil, P. Konarski, P. Hoffmann, D. Schmeisser
The influence of annealing (900C) on ultrathin PECVD silicon oxynitride layers
Journal of Telecommunication and Information Technology in press
R. Mroczynski, T. Bieniek, R.B. Beck, M. Cwil, P. Konarski, P. Hoffmann, D. Schmeisser
Comparison of composition of ultrathin silicon oxynitride layers fabricated by PECVD and ultrashallow r.f. plasma ion implantation
Journal of Telecommunication and Information Technology (in press)
M. Kalisz, R.B. Beck, A. Barcz, M. Cwil
The role of fluorine - containing ultrathin layers in controlling boron thermal diffusion into silicon
Journal of Telecommunication and Information Technology in press
T. Bieniek, R.B. Beck, A. Jakubowski, P. Hoffmann, D. Schmeisser, P. Konarski, M. Cwil
Formation of Pedestal Oxynitride Layer by Extremely Shallow Nitrogen Implantationin Planar R.F. Plasma Reactor
ECS Transactions 1 (5) 407 (2006)
P. Konarski, M. Cwil, J. Piekoszewski, J. Stanislawski
SIMS characterisation of superconductive MgB2 layers prepared by ion implantation
and pulsed plasma treatment
Applied Surface Science 252, 7078-7081 (2006)
M. Cwil, P. Konarski, M. Pajak, T. Bieniek, A. Kosinski, K. Kaczorek
RuO2/SiO2/Si and SiO2/porous Si/Si interfaces analysed by SIMS
Applied Surface Science 252, 7058-7061 (2006)
P. Konarski, J. Haluszka, M. Cwil
Comparison of urban and rural particulate air pollution characteristics obtained by SIMS and SSMS
Applied Surface Science 252, 7010-7013 (2006)
M. Cwil, P. Konarski, T. Bieniek, R.B. Beck
Si-oxide/Si and Si-oxynitride/Si interfaces analysed by ultra-low energy SIMS
Physica Status Solidi (a) 203, No. 9, 2200–2204 (2006)
M. Igalson, M. Cwil, M. Edoff
Persistent capture and release of electrons in CIGS solar cells
Proceedings of the 20th European Photovoltaic Solar Energy Conference, Barcelona (ed. W.Palz, H. Ossenbrink, P. Helm), 1800 (2005)
P. Zabierowski, M. Cwil, M. Edoff
Influence of Traps on Carrier Concentration Profiles Measured by Capacitance-Voltage and Drive Level Profiling in CIGSe-Based Heterojunctions
Mater. Res. Soc. Symp. Proc. 865, F12.3.1 (2005)
M. Cwil, P. Konarski
Ion beam shadowing effects in SIMS depth profile analysis of MBE-grown nanostructures
Vacuum 78, 291-295 (2005)
V.M. Anischik, V.V. Uglov, S.V. Zlotsky, P. Konarski, M. Cwil, V.A. Ukhov
SIMS investigation of nitride coatings
Vacuum 78, 545-550 (2005)
P. Konarski, J. Haluszka, M. Cwil, I. Iwanejko, K. Kaczorek, J. Gawel, K. Pisiewicz,
A. Lesiak-Bednarek, H. Strugala-Stawik
Ion beam analysis of urban aerosol micro- and nanoparticles compared with environmentally related children deseases in two Polish towns
Vacuum 78, 297-301 (2005)
P. Konarski, M. Cwil, M. Zaremba, D. Radziewicz, B. Sciana, J. Kozlowski
Ultra-low energy SIMS depth profile analysis of MOVPE grown InAlGaAs/AlGaAs/GaAs nanostructures
Reviews on Advanced Materials Science 8, 34-40 (2004)
P. Konarski, M. Cwil, I. Iwanejko, A. Mierzejewska, R. Diduszko
Morphology of micro- and nanoparticles emitted by copper plants in Western Poland
Thin Solid Films 459, 86-89 (2004)
Errata, Thin Solid Films 503, 276 (2006)
P. Konarski, I. Iwanejko, M. Cwil
Core-shell morphology of welding fume micro- and nanoparticles
Vacuum 70, 385-389 (2003)
Publications in Polish:
M. Ćwil
Recykling paneli fotowoltaicznych
Urządzenia dla Energetyki Nr 4, 30-32 (2006)
M. Ćwil
Pozyskiwanie cennych materiałów w procesie recykling paneli fotowoltaicznych
Prace Przemysłowego Instytutu Elektroniki 153, 142-152 (2006)
P. Konarski, M. Ćwil, K. Kaczorek, J. Marks
Metody spektrometrii mas w zastosowaniu do badania materiałów
Elektronika 7, 51-53 (2006)
M. Ćwil, P. Konarski, M. Pająk, T. Bieniek, A. Kosiński
Badanie ultra cienkich warstw SiO2 nanoszonych na krzemie i porowatym krzemie - analiza profilowa ULE-SIMS
Prace Naukowe Politechniki Warszawskiej, seria Elektronika 153, 83 (2005)
P. Konarski, J. Hałuszka, M. Ćwil, K. Pisiewicz, H. Strugała-Stawik
Badanie drobin pyłów atmosferycznych ze środowiska miejskiego i wiejskiego metodami SIMS i SSMS
Prace Naukowe Politechniki Warszawskiej, seria Elektronika 153, 89 (2005)
P. Konarski, J. Hałuszka, M. Ćwil, K. Kaczorek, K. Pisiewicz
Porównanie morfologii i struktury pyłowych zanieczyszczeń powietrza w mieście
i na wsi przeprowadzone metodami spektrometrii mas SIMS i SSMS
Medycyna Środowiskowa 8 supl.1, 17-18 (2005)
M. Ćwil, P. Konarski
Analiza profilowa SIMS półprzewodnikowych struktur laserowych wiązką jonową Ar
Elektronika 2-3, 29-30 (2005)
P. Konarski, M. Ćwil, M. Zaremba, D. Radziewicz, B. Ściana, J. Kozłowski
Badanie nanostruktur warstwowych InAlGaAs/AlGaAs/GaAs metodą SIMS
przy zastosowaniu wiązki jonów o ultra niskiej energii
Prace Przemysłowego Instytutu Elektroniki 150, 160-171 (2004)
E. Kowalska, M. Więch, P. Konarski, J. Radomska, K. Kaczorek, R. Diduszko, M. Ćwil
Utylizacja odpadów niebezpiecznych z wykorzystaniem procesu pirolizy i dwustopniowego systemu dopalania gazów pirolitycznych (plazma i/lub kataliza)
Prace Przemysłowego Instytutu Elektroniki 150, 66-77 (2004)
P. Konarski, M. Ćwil
Analiza profilowa SIMS w zastosowaniu do badań nanostruktur warstwowych
Elektronika 6 (2004)
J. Hałuszka, P. Konarski, A. Lesiak-Bednarek, M. Ścibor, I. Iwanejko, M. Ćwil,
H. Strugała-Stawik, J. Zakrzewski, K. Pisiewicz
Porównanie częstości występowania chorób układu oddechowego u dzieci w Legnicy
i Starachowicach z charakterystyką pyłowych zanieczyszczeń powietrza
Medycyna Środowiskowa 6/2, 153 (2003)
P. Konarski, I. Iwanejko, A. Mierzejewska, M. Ćwil
Analiza mikro- i nanocząstek pyłów spawalniczych
Elektronika 12, 42-45 (2002)
Conference presentations:
soon