KONFIGURACJE
RÓWNOWAGOWE MOLEKUŁ W „MIĘKKIEJ MATERII”
DYSKLINACJE,
LINIE DYSKLINACJI I DYSLOKACJE W CIEKŁYCH KRYSZTAŁACH
Dysklinacjami nazywamy
defekty punktowe struktury mające charakter punktów osobliwych, w których
otoczeniu następuje gwałtowna zmiana kierunków osi molekuł. Połączone ze sobą
punkty dysklinacji tworzą linie dysklinacji (linie “gwałtownych
odchyleń”).
Równowagowy
rozkład długich osi molekuł (geometria pola wektorowego direktora n)
wokół dysklinacji musi, oczywiście, spełniać zasadę minimum energii swobodnej,
tutaj - energii deformacji sprężystych:
gdzie n jest direktorem, a Ki są stałymi
elastyczności dla deformacji odpowiednio splay S (rozpływu) , twist T (skręcenia)
i bend B (ugięcia).
Zasadnicze cechy geometrii pola
direktora n znajdziemy stosując przybliżenie jednej stałej
elastyczności, tzn. K1 = K2 = K3 = K. Wtedy
wyrażenie na gęstość energii deformacji przybiera prostą postać:
W płaskiej warstwie nematyka, w której direktor n jest zawsze równoległy do płaszczyzny warstwy, składowe direktora w płaszczyźnie xy, jak na rysunku poniżej, są następujące: nx = cos a, ny = sin a, czyli n = ex cos a + ey sin a, gdzie ex i ey są wersorami osi. Ponieważ jednak geometria pola n jest określona wyłącznie przez rozkład położeń kątowych tego wektora, to bardziej naturalnym wyborem będzie przyjęcie cylindrycznego układu biegunowego r,a,z, w którym składowe n będą: nr = cos [j(a) - a], na = sin [j(a) - a] i nz = 0, czyli
n = er cos [j(a) - a] + ea sin [j(a) - a].
Ponieważ gęstość energii swobodnej Fdef jest określona przez sumę kwadratów dywergencji Ñ×n i rotacji Ñ´n, to wykorzystamy wyrażenia na te funkcje wektorowe w układzie cylindrycznym polarnym:
,
Po podstawieniu tutaj wyrażeń na nr,
na i nz
otrzymujemy:
Tutaj kąt j zależy tylko od kąta
biegunowego a, a zatem pochodne cząstkowe przechodzą w pochodne zwyczajne.
Przyjmujemy, że warstwa ma grubość jednostkową i energię swobodną deformacji F wyrazimy przez całkę gęstości tej energii po powierzchni A:
W poszukiwaniu konfiguracji równowagowej
pola direktora n najbardziej
efektywną metodą jest zastosowanie rachunku wariacyjnego. Aby energia swobodna deformacji F osiągnęła wartość minimalną, funkcja
podcałkowa (funkcja bazowa funkcjonału F),
która tutaj ma postać f(j’,a) = (j’(a))2 musi spełniać równanie Eulera-Lagrange’a:
Dla funkcji f(j’,a) = (j’(a))2
znajdujemy: , oraz . Równanie Eulera-Lagrange’a
przyjmuje ostatecznie prostą postać
Jednym z rozwiązań
tego równania jest φ = 0, ale jest ono nieinteresujące ponieważ oznacza
brak jakiegokolwiek zaburzenia w całej płaszczyźnie xy. Drugim rozwiązaniem
jest
gdzie C jest stałą, zaś parametr S jest nazywany siłą
(strength) dysklinacji. Ponieważ po
pełnej zmianie kąta biegunowego a o 2p
kierunek n nie może ulec zmianie
(jest to powrót w to samo miejsce), zatem kąt nachylenia wektora n może
zmienić się tylko o całkowitą wielokrotność kąta p. Z równości
oraz
dla całkowitego k wynika, że S
może przyjmować tylko wartości będące
całkowitą wielokrotnością ±1/2:
S =
±1/2, ± 1, ±3/2, . . . dla 0 < C < π.
Mapy pola molekularnego n
wokół linii dysklinacji o wartościach
siły defektu S z przedziału od –4
do 4: (stała C jest istotna
tylko w przypadku, gdy S = 1. Dla innych wartości S zmiana wartości stałej C
daje w rezultacie jedynie obrót pola direktora jako całości bez zmiany jego
kształtu)
Trójwymiarowe obrazy
rozkładu pola direktora n dla kilku wartości S można zaprezentować
następująco:
W otoczeniu linii
dysklinacji pole molekularne jest silnie zaburzone i energia swobodna
występujących tu deformacji jest znaczna. Z tego powodu korzystniejszy
energetycznie jest podział jednej linii dysklinacji o wysokiej wartości S na
dwie lub więcej linii o niskich wartościach S (suma wartości S przed i po
podziale nie może ulec zmianie). Schemat
dysocjacji linii z S = 1 na dwie linie o siłach S = +1/2 jest pokazany po
prawej stronie rysunku. W dużych warstwach nematyka algebraiczna suma
wszystkich defektów jest bliska zeru, czyli w takich warstwach istnieje w
przybliżeniu tyle samo defektów z S dodatnimi, co defektów mających S ujemne.
Połączenie defektów o przeciwnych znakach (kompensacja
siły defektów) jest przedstawione na rysunku
W nematykach chiralnych
linie dysklinacji mają specjalną budowę narzuconą przez chiralne uporządkowanie
długich osi molekuł. Pola molekularne wokół takich linii, zwanych dysklinacjami
śrubowymi χ, są pokazane na rysunku poniżej (Chiset) dla S = 1/2 oraz S = 1. Lokalne rozkłady tych pól
są podobne do obserwowanych w zwykłych nematykach ale przestrzenne ich uformowanie jest zgodne z wymogami
chiralności struktury.
Wysoka gęstość energii
swobodnej w otoczeniu linii dysklinacji wywołana istnieniem deformacji
elastycznych nematyka może zostać zredukowana przez “ucieczkę w trzeci
wymiar” pola direktora, czyli wypchnięcie długich osi molekuł w kierunku
równoległym do osi dysklinacji. Takie “wypchnięte” defekty są
często obserwowane w cienkich kapilarach lub w wartwach nematyka poddanych
działaniu pola elektrycznego. Są one pokazane na rysunku poniżej (Escape3D) dla
S = 1 (C = 0, π/2, π/4) oraz dla S = -1.
Nie ma możliwości otrzymania kropli ciekłego kryształu, która nie miałaby przynajmniej jednego defektu topologicznego, jak na rysunku poniżej: dla normalnych warunków brzegowych w nematykach (a, b), dla stycznych w nematykach (c - f) oraz dla stycznych w nematykach chiralnych (g, h).
Niektóre z kropel przedstawionych na rysunku są zorganizowane wokół linii dysklinacji , a nie punktów osobliwych (b, e, f).
Linie dysklinacje
pojawiają się także w smektykach A i C. W zależności od rozkład molekuł wokół
tych linii są one oznaczane symbolami Ωa lub Ωb.
W
ciekłych kryształach mających budowę warstwową występują także dyslokacje
krawędziowe i śrubowe jak w kryształach. Na rysunku przedstawiono linie dysklinacji
oraz dyslokacje krawędziową (A1) i śrubową (B)
w smektyku A. Zaprezentowano tutaj także przekształcenie dyslokacji
krawędziowej w układ dwóch dysklinacji
(A2).
Aby zredukować
krzywiznową energię sprężystą, warstwowe i pseudowarstwowe ciekłe kryształy
(smektyki i nematyki chiralne) mogą tworzyć tzw. teksturę konfokalną. Jednostka
konfokalna jest zbudowana na dwóch krzywych stanowiących osobliwości
uporządkowania - elipsy i hiperboli – przy czym hiperbola przechodzi
przez jedno z ognisk elipsy oraz elipsa przechodzi przez ognisko hiperboli oraz
płaszczyzny, w których leżą te krzywe są do siebie prostopadłe
Zasadniczy model formowania się i
ewolucji nematoidów
Model jest oparty na separacji faz w obszarze rdzeni defektów ciekłokrystalicznych kropel i włókien i w płytce łączącej włókna tworzące układ bifilarny. Nematoidy pierwotne powstają w odpowiednio dobranych układach nemato- i smektogenów w czasie chłodzenia z fazy izotropowej. Wtedy ze stopu rosną spontanicznie bardzo cienkie polarne płytki, które bardzo szybko zwijają się we włókna cylindryczne będące właśnie nematoidami pierwotnymi. Nematoidy wtórne i wyższych rzędów są rezultatem wzrostu fazy smektycznej w obszarze rdzenia defektu w kropli toroidalnej powstałej po zwinięciu się nematoidu pierwotnego. Nematoidy wyższych rzędów wyrastają z wnętrza wielobiegunowych kropel lub jezior (płytek smektycznych obramowanych nematycznym brzegiem), jakie powstają po kolejnym wsysaniu nematoidów niższych rzędów. Stosunkowo odporna na rozerwanie struktura włóknista, tworzona w obszarze rdzeni defektów ma niezwykle interesujące własności.
a. Jest w pewnych przypadkach widoczna jako bardzo cienka struna łącząca dwie krople lub jeziora i pozostająca po ściągnięciu w kierunku kropli miękkiego płaszcza nematoidu;
b. Widoczna struna jest w rzeczywistości złożona z kilku (przynajmniej trzech) przylegających do siebie jeszcze cieńszych strun, przy czym jedna z tych strun tworzy zamkniętą pętlę, która niekiedy może zostać wyrwana z jednego jeziora i w całości wessana do drugiego jeziora (kropli);
c. Ściąganie się tej pętli będące wynikiem wsysania jej materiału do obszaru jeziora powoduje, że smektyczna płytka jeziora wygina się i zostaje w końcu zamknięta jako pęcherzyk zakończony szyjką, która jest pozostałością po ściągniętej pętli. Tworzenie się pęcherzyka lub serii pęcherzyków znalazłem już przed kilku laty, ale teraz przedstawiłem model tego procesu.
Opisane wyżej zjawiska wyjaśnia jakościowo zaproponowany przeze mnie model, którego podstawą jest kropla toroidalna rozrywana przez fazę smektyczną rosnącą w obszarze rdzenia defektu kropli. Obie części kropli są połączone bardzo długim nematoidem. Jedna z części rozrywanej kropli może być zredukowana tylko do czapeczki zamykającej nematoid.
Przedstawione mikrofotografie zostały otrzymane dla warstw ciekłokrystalicznych mieszanin z układu A1|B5|SO-H.
Przedstawione
na SPIE Optics&Photonics, Photonic Devices & Applications, Liquid
Crystals XII, San Diego, 10-14 August 2008 (Antoni Adamczyk, Hard-core
liquid-crystal fibers)
Badania kryształów i ciekłych kryształów w mikroskopie
polaryzacyjnym – zasada fizyczna
W badaniach stosujemy układ dwóch folii polaryzacyjnych
lub dwóch kryształów dwójłomnych tak wyciętych aby każdy z nich przepuszczał
światło spolaryzowane liniowo. Jeden z tych elementów przekształca światło
niespolaryzowane w wiązkę spolaryzowaną i nosi nazwę polaryzatora, a drugi
analizuje stan polaryzacji światła przechodzącego i nosi nazwę analizatora.
Jeżeli między polaryzatorem i analizatorem umieścimy płytkę dwójłomną lub warstwę ciekłego kryształu, to pole widzenia zostanie na ogół rozjaśnione a płytka (lub warstwa) będzie widziana zwykle jako obiekt zabarwiony nawet wtedy, gdy jest ona bezbarwna w świetle niespolaryzowanym. Mechanizm tych zjawisk jest następujący: Natężenie I światła o długości fali λ przechodzącego przez warstwę dwójłomną o dwójłomności
i o grubości d umieszczoną między polaryzatorami, których osie tworzą ze
sobą kąt α wynosi
gdzie I0 jest
natężeniem światła padającego na układ, φ - kątem między osią warstwy i
osią polaryzatora a δ jest przesunięciem fazy wytwarzanym przez warstwę
, .
W najczęściej spotykanym przypadku, gdy polaryzator i
analizator są skrzyżowane, czyli α = π/2, natężenie światła
przechodzącego jest opisywane prostszym wyrażeniem
W uproszczonej interpretacji, składnik sin2δ/2 tego iloczynu określa barwę światła przechodzącego, a
składnik sin22φ - jej intensywność. Maksymalną intensywność
rejestruje się dla φ = π/4 = 45o.