Laboratorium Fizyki II Warszawa
2003/04
WYZNACZANIE SZEROKOŚCI PRZERWY ENERGETYCZNEJ PÓŁPRZEWODNIKÓW METODĄ ABSORPCJI PROMIENIOWANIA
Opracował dr Jan Grabski
Według modelu Bohra, atomy składają się z jądra (protony
i neutrony) oraz elektronów, które krążą wokół jądra po orbitach kołowych. Nie
wszystkie orbity są dozwolone, lecz tylko te, na których moment pędu elektronu
(L) spełnia zależność:
L = P · r = n · const,
gdzie P- pęd elektronu, r- promień orbity, n jest liczbą naturalną (nazywana jest
główną liczbą kwantową), a const =
ħ = h /2π, gdzie h - stała Plancka ( = 6.63 ·10-34
J· sec).
Jest to
równoważne stwierdzeniu że w atomie mogą istnieć tylko takie orbity
elektronowe na których obwód (2 π r ) jest wielokrotnością
długości fali de Brogille’a
elektronu λ = h/P.
Dozwolonym orbitom odpowiadają ściśle określone poziomy energetyczne elektronów, które także zależą od liczby kwantowej n. Przejściu z jednej orbity na inną towarzyszy pochłanianie albo emisja fotonu o energii odpowiadającej różnicy poziomów energetycznych. Stąd widmo absorpcyjne izolowanych atomów jest widmem składającym się z bardzo wąskich linii, oddzielonych od siebie obszarami (przerwami), w których absorpcja nie zachodzi.
Po zbliżeniu atomów do siebie, pojedyncze poziomy orbit
rozszczepiają się na bardzo bliskie sobie podpoziomy. Elektrony na orbitach nie
mogą już mieć jednej energii odpowiadającej energii izolowanego atomu. Zabrania
tego zakaz Pauliego, zasada mechaniki kwantowej wg, której w danym stanie
kwantowym może znajdować się tylko jeden elektron. Z pojedynczego poziomu
powstaje pasmo dozwolonych stanów energii, co schematycznie ilustruje poniższy
rysunek.
Rys.1.
Rozszczepienie poziomów energii przy zbliżaniu się atomów
Najbardziej oddalone od jądra pasmo energetyczne
kryształu, na którym w temperaturze 0°K znajdują się elektrony, nazywane jest
pasmem walencyjnym. W metalach pasmo to jest częściowo wypełnione elektronami,
zaś w półprzewodnikach prawie całkowicie (całkowicie w temperaturze 0°K). To
właśnie stanowi o różnicy własności elektrycznych i optycznych półprzewodników
i metali.
Stany o energiach wyższych od
energii pasma walencyjnego tworzą w półprzewodniku pasmo nazywane pasmem przewodnictwa zaś pasmo energetyczne
oddzielające pasmo przewodnictwa od pasma walencyjnego nazywane jest przerwą
wzbronioną półprzewodnika ΔEg
/rys.2/.
Szerokość przerwy wzbronionej jest jednym z podstawowych
parametrów charakteryzujących półprzewodnik i określa takie własności jak
przewodnictwo elektryczne i cieplne, fotoprzewodnictwo, własności optyczne itp.
Na rys. 2. zaznaczono także położenie poziomów domieszek w
półprzewodnikach domieszkowanych. Poziom donorowy pochodzi od domieszki która
łatwo uwalnia swoje elektrony do pasma przewodnictwa (np. pięciowartościowy fosfor
w krzemie ). Poziom akceptorowy powstaje w wyniku wystąpienia domieszki która
łatwo wychwytuje elektron z pasma walencyjnego półprzewodnika (np.
trójwartościowy bor w krzemie i
germanie).
W swobodnej przestrzeni
związek pomiędzy energią kinetyczną a pędem elektronu wyraża zależność:
co ilustruje rys 3.a.
W krysztale, ze względu na
obecność periodycznej sieci z którą oddziałuje elektron, jego zależność energii
od pędu ulega zmianie. W krysztale nie
mogą istnieć elektrony których długość fali de Brogille’a jest wielokrotnością
stałej sieci kryształu (a)- stąd dla pędu elektronu równego P= 2π·ħ·n/a
wystąpi nieciągłość energii. Schematycznie ilustruje to rys.3.b.
Rys3. Zależność pomiędzy energią kinetyczną a pędem elektronu a) swobodnego,
b) przewodnictwa w krysztale
Powyższy rysunek w inny sposób tłumaczy powstawanie pasm
energetycznych w krysztale.
Wielkość przerwy energetycznej
można wyznaczyć kilkoma metodami, np. z pomiaru przewodnictwa w funkcji
temperatury, lub fotoprzewodnictwa. Istnieje również optyczna metoda pomiaru
wartości Eg, oparta na pomiarze współczynnika absorpcji w funkcji energii
promieniowania elektromagnetycznego padającego na próbkę półprzewodnika. Metoda
ta wydaje się najbardziej interesująca, ponieważ obok wielkości ΔEg daje
informacje dotyczące struktury pasm energetycznych.
Oddziaływanie
promieniowania elektromagnetycznego z materią
Wyobraźmy sobie warstwę z materiału absorbującego o
grubości d na którą prostopadle do powierzchni pada promieniowanie
elektromagnetyczne o natężeniu J0.(rys.4.)
Rys.4. Absorpcja światła w półprzewodniku
Przy przejściu przez warstwę, natężenie promieniowania
maleje w wyniku absorpcji i odbicia. Współczynnik odbicia
gdzie JR - natężenie światła odbitego, zatem
natężenie promieniowania wchodzącego do warstwy wynosi: J(0) = J0 – JR = J0
(1-R).
Oznaczmy natężenie światła padającego na warstwę o
grubości dx ( rys.4.) przez J.
W wyniku absorpcji światła w tej warstwie natężenie jego
zmaleje o dJ, przy czym
dJ = - α · J · dx /1/
ponieważ osłabienie
promieniowania jest proporcjonalne do natężenia promieniowania padającego oraz
do grubości warstwy, zaś α oznacza współczynnik proporcjonalności.
Całkując równanie /1/ w granicach od 0 do x
otrzymamy prawo Lamberta:
J = J0 ·(1-R) · exp(- α · x) /2/
Prawo to mówi jak zmienia się natężenie promieniowania
po przejściu warstwy o grubości x.
Natężenie światła J jest proporcjonalne do kwadratu
amplitudy wektora elektrycznego fali elektromagnetycznej E2. Dlatego
absorpcję możemy opisać, rozważając E.
Rozwiązanie
równania Maxwella dla fali elektromagnetycznej daje następujące wyrażenie
/3/ ,
Wektor jest
równoległy do kierunku rozchodzenia się fali
r, zaś λ oznacza długość
fali padającego promieniowania. Wektor k
nazywa się wektorem falwym.
Prędkość fazowa fali
vf = r/t =
ω/k. Dla fali świetlnej w
substancjach o współczynniku załamania n
Vf =
c n
Vf =
skąd: . gdzie c-prędkość światła.
Ośrodek pochłaniający charakteryzuje się zespolonym
współczynnikiem załamania:
N = n – i κ = c
/ v
gdzie κ oznacza współczynnik ekstynkcji
odpowiedzialny za absorpcję.
Wprowadzając zamiast n
wartość N do wyrażenia /3/, otrzymamy:
E(r,t) =
E(0)exp[–i ω(n·r/c –
t)–ωκr/c]
stąd:
E(r)2 = E(0)2exp[–2ωκr/c]
oraz J(r)
= J(0) exp(–α r),
gdzie α =
2κω/c = 4πκ/λ.
Równanie powyższe wiąże współczynnik absorpcji α występujący we wzorze /2/
ze współczynnikiem ekstynkcji i długością fali promieniowania.
Jeśli na kryształ padają fotony
o energii wystarczającej do przeniesienia elektronów z pasma walencyjnego do
pasma przewodnictwa, to są one o wiele silniej absorbowane, niż fotony o
mniejszych energiach. Zatem w widmie absorpcyjnym półprzewodnika lub izolatora
daje się wyróżnić w okolicy energii równej szerokości przerwy energetycznej
odcinek szybkiego wzrostu współczynnika absorpcji, zwany krawędzią absorpcji.
Tak więc położenie krawędzi
absorpcji jest związane z szerokością przerwy zabronionej. Typowe
półprzewodniki, takie jak krzem i german, mające krawędzie absorpcji w bliskiej
podczerwieni, absorbują silnie cały zakres widzialny promieniowania
elektromagnetycznego
(0,7 ÷ 0,4 μm, lub 1,7 ÷ 3,1 eV) i w związku z tym
mają kolor szary. Półprzewodniki o większej przerwie zabronionej, takie jak
amorficzny selen, lub siarczek kadmu, mają krawędź absorpcji w zakresie
widzialnym, w związku z tym absorbują silnie tylko pewną część promieniowania
widzialnego. Dzięki temu są barwne - w świetle przechodzącym Se ma kolor
czerwony, CdS -żółty. Izolatory (dielektryki), których krawędź absorpcji
przypada w ultrafiolecie, są bezbarwne. Znanymi przykładami takich dielektryków
są diament i kwarc.
Powyższe analogie są słuszne w
odniesieniu do względnie czystych ciał stałych, gdyż w przypadku bardzo dużej
koncentracji domieszek zabarwienie może być związane z absorpcją lub
rozpraszaniem przez te domieszki. Przykładem może być czerwona barwa rubinu
który jest tlenkiem glinu Al2O3 zawierającym 0,05 do 0.5%
jonów chromu. Czysty tlenek glinu jest bezbarwny.
W widmie absorpcyjnym półprzewodnika
możemy wyróżnić kilka zasadniczych rodzajów absorpcji:
1. Absorpcja podstawowa lub
inaczej samoistna powoduje przejście elektronu ze stanu związanego w stan
swobodny, tzn. z pasma podstawowego do pasma przewodnictwa. W zależności od
szerokości przerwy zabronionej obserwuje się ją w obszarze widzialnym lub w
bliskiej podczerwieni, zachodzi ona przy warunku hν > ΔEg. Współczynnik absorpcji podstawowej jest
rzędu 10 5-10 6cm-1.
Wyróżniamy tzw. proste i skośne przejścia podstawowe.
Pierwsze z nich zachodzą bez zmiany wektora falowego fotonu: k = k', gdzie k' i k oznaczają odpowiednio wektory falowe elektronu w paśmie przewodnictwa i w paśmie podstawowym. Przejścia te zachodzą bez wzbudzenia drgań sieci (rys.5.a).
W przejściach skośnych wzbudzeniu elektronu towarzyszy
wzbudzenie (emisja) lub absorpcja drgań sieci. Zasada zachowania pędu wymaga by
k’ = k + K, gdzie K - wektor falowy
fononu (rys.5.b).
Rys.5. Schemat przejść podstawowych a) prostych. b) skośnych.
Przejścia między pasmowe dzielimy jeszcze na dozwolone i
zabronione (ze względu na kwantowe reguły wyboru). Dla przejść prostych
dozwolonych współczynnik absorpcji zależy od energii fotonu w następujący
sposób:
α =
B(hν-ΔEg)1/2
gdzie B -
stała
dla przejść prostych zabronionych
α =
C(hν-ΔEg)3/2
gdzie C - inna stała.
Dla przejść nieprostych (skośnych) α jest wprost proporcjonalne do (hν-ΔEg)2 jeśli są to przejścia dozwolone, lub do
(hν-ΔEg)3 - jeżeli są to przejścia zabronione.
Ogólnie, przejścia międzypasmowe
charakteryzują się potęgową zależnością od (hν-ΔEg);
powinny się gwałtownie urywać dla hν < ΔEg.
2. Absorpcja ekscytonowa
prowadzi do takiego wzbudzenia elektronu z pasma walencyjnego, przy którym nie
przechodzi on do pasma przewodnictwa, lecz tworzy z dziurą związany układ,
przypominający atom wodoropodobny. Taka związana para elektron- dziura, zwana
ekscytonem, może przemieszczać się w krysztale. Absorpcja ekscytonowa
uwidacznia się w postaci maksimów lub stopni na krawędzi absorpcji podstawowej
(po stronie energii mniejszych od ΔEg).
3. Absorpcja przez swobodne
nośniki ładunku. Polega ona na tym, że pole elektryczne fali świetlnej
przyspiesza elektrony w paśmie przewodnictwa, lub dziury w paśmie walencyjnym.
Nośniki te zderzając się z
siecią przekazują jej swoją energię. Współczynnik absorpcji przez swobodne
nośniki zależy wprost proporcjonalnie od λ2.
4. Absorpcja domieszkowa jest
związana z jonizacją atomów domieszek, tj. albo z przejściem elektronów z
poziomu donorowego do pasma przewodnictwa, albo z pasma podstawowego na poziom
akceptorowy. W wielu przypadkach - na przykład domieszek grupy V lub III w Ge
lub Si - domieszkowe poziomy energetyczne są tak bliskie pasma przewodnictwa
lub walencyjnego, że, w celu otrzymania gęstości niezjonizowanych poziomów
dostatecznej do zaobserwowania wyraźnej absorpcji domieszkowej, należy oziębić
kryształ do bardzo niskich temperatur.
5. Absorpcja sieciowa zachodzi w
wyniku oddziaływań pola elektromagnetycznego fali świetlnej z poruszającymi się
ładunkami węzłów sieci. Współczynnik absorpcji jest rzędu 10 do 100 cm-1.
Absorpcja sieciowa zachodzi przy znacznie mniejszych energiach niż absorpcja, w
której biorą udział elektrony.
Badanie widma absorpcyjnego jest
prostym i bezpośrednim sposobem wyznaczania szerokości przerwy energetycznej.
Wiemy, że mechanizmów absorpcji promieniowania jest wiele, i że często
występują one łącznie - np. absorpcja energii przez elektrony i fonony przy
przejściach skośnych. Baz szczegółowej analizy udziału tych procesów przerwę
energetyczną nożna wyznaczyć z dokładnością nie większą niż 0,1 eV.
Jeżeli zna się (lub zakłada)
dominujący rodzaj absorpcji podstawowej w pobliżu krawędzi (przejęcia proste
lub skośne, dozwolone lub zabronione), to widmo absorpcyjne w okolicy krawędzi
absorpcji aproksymuje się odpowiednią funkcją α(hν) w której
szerokość przerwy energetycznej występuje jako parametr, który nożna wyznaczyć.
Należy jednak pamiętać, że wzory, wyrażające zależność współczynnika absorpcji
od energii, wyprowadzono przy pewnych założeniach, np. co do parabolicznej
funkcji gęstości stanów g(E) (czyli liczby poziomów energetycznych, których
energie są bliskie E). Wzory te, pasują do wykresów α(hν) otrzymanych eksperymentalnie jedynie w
przybliżeniu. Na przykład w przypadku prostych przejąć dozwolonych krawędź
absorpcji opisuje się wzorem α = B(hν-ΔEg)1/2
Zatem wykres
α2 = f(hν) powinien być prostoliniowy i przecinać
oś energii dla hν = ΔEg .
W rzeczywistości wykres na ogół zakrzywia się
wykładniczo w stronę mniejszych energii (patrz rys.6).
Rys.6. Typowa zależność kwadratu
współczynnika absorpcji przy prostych przejściach
dozwolonych od energii fali
Przyczynę tego można objaśnić następująco: współczynnik
absorpcji dla fotonów
o energii hν
jest wprost proporcjonalny do prawdopodobieństwa przejścia ze stanu
początkowego do końcowego, do gęstości początkowych stanów energetycznych i do
gęstości nie zapełnionych stanów końcowych. Obecność domieszek w półprzewodniku
prowadzi do tego, że funkcja gęstości stanów g(E) rozmywa się wokół wartości
energii odpowiadających dnu pasma przewodnictwa i wierzchołkowi pasma
walencyjnego (patrz rys.7).
Rys.7. Krzywa punktowana-funkcja gęstości stanów przy
braku zaburzeń pochodzących od domieszek. Krzywa ciągła -funkcja gęstości
stanów rozmyta w tzw. "ogony" g(E)
1. Teoretyczne zapoznanie się z podstawowymi
mechanizmami absorpcji w półprzewodnikach.
2. Zapoznanie się z przyrządami optycznymi potrzebnymi
do pomiaru widma absorpcyjnego
(źródło
światła + monochromator + detektory = spektrometr).
3. Pomiar i wykreślenie widma w okolicy krawędzi
absorpcji półprzewodnika (selenu, krzemu
lub innego)
oraz wyznaczenie szerokości przerwy energetycznej.
4. Porównanie położenia krawędzi absorpcji i
długofalowej granicy zjawiska fotoelektrycznego.
1 Pomiar widna w
okolicy krawędzi absorpcji
Schemat układu pomiarowego
przedstawiono, na rys.8. Na wejściu do monochromatora wstawiamy lampę
wolframową, dającą widno ciągłe w przedziale ~ 0,4 + 1.5 um. Justujemy układ
optyczny tak aby otrzymać maksymalne wskazanie mikroamperomierza. Jako
detektora używamy termoparę, której
odpowiedź zależy od mocy pochłoniętego promieniowania. Pomiaru dokonujemy na
zakresie napięciowym (mikrovolty). Po włączeniu komputera sterującego pomiarem
postępujemy zgodnie z instrukcjami pojawiającymi się na ekranie. Po
uruchomieniu programu Lab wybieramy w opcji „Parametry/Odczyt/Wszystko” zbiór
konfiguracyjny „Config” który określa przyrządy wykorzystywane do pomiarów
(woltomierz cyfrowy oraz monochromator) oraz zakresy pomiarów. Aby uruchomić
pomiary naciskamy przycisk „Start”. Komputer steruje silnikiem krokowym
monochromatora i umożliwia odczyt, wizualizację oraz zapis wyników pomiaru na
dysku komputera. Należy pamiętać o zapisie danych (opcja „Dane/Zapis na dysk”)
po każdym pomiarze nadając zbiorom różne nazwy (rozpoczęcie kolejnych pomiarów
powoduje wyczyszczenie bufora danych).
W bieg promieni wstawiamy badane
płytki półprzewodnikowe. Zmieniając długości fal, obserwujemy wskazania
mikroamperomierza i znajdujemy orientacyjne położenie krawędzi absorpcji. W okolicy tej krawędzi mierzymy transmisję
dwukrotnie, odczytując dla danej długości fali wskazania mikroamperomierza: raz
w układzie jak na rys.8 - JT
a drugi raz w tym samym układzie lecz bez badanej próbki -J0.
Stosunek JT/J0 daje nam wartość wprost proporcjonalną do
transmisji próbki.
Rys.8. Schemat układu pomiarowego transmisji światła
W celu znalezienia właściwej wartości transmisji należy
uwzględnić natężenie światła odbitego od próbki. Wartość współczynnika odbicia
od badanej płytki możemy zmierzyć albo
oszacować z pomiarów transmisji. W obszarze energii mniejszych od szerokości
przerwy wzbronionej absorpcja jest pomijalnie mała, zatem suma transmisji i
odbicia powinna być równa jedności.
Wyznaczając współczynnik odbicia ( R = 1-T ) z obszaru
bliskiego szerokości przerwy, np. dla maksimum transmisji Tmax = max(JT/J0),
przyjmujemy tę wartość do dalszych obliczeń, zakładając że zmienia się ona
wolno w badanym obszarze.
2. Obliczanie szerokości przerwy energetycznej
W krzemie w obszarze energii większych od przerwy energetycznej, zachodzą między pasmowe dozwolone przejścia skośne, zaś dla GaAs, In2P3 oraz CdS dozwolone przejścia proste. Zakładając, że widno absorpcyjne w tym obszarze można przybliżyć funkcją α = B(hν -ΔEg)p, gdzie p=2 lub ½ (patrz rozdział o rodzajach absorpcji promieniowania), znajdujemy liczbowa wartość ΔEg za pomocą wykresu (-log T)1/p w funkcji hν poprzez ekstrapolację liniowego odcinka wykresu do przecięcia się z osią energii (patrz rys.6 dla przejść skośnych p=2).
3. Badanie zjawiska fotoelektrycznego. Sprawdzenie, w jakim zakresie spektralnym czułe jest fotoogniwo krzemowe oraz dioda wykonana z arsenku galu.
Wykonujemy pomiary zakresu czułości fotodiody podłączając je do mikroamperomierza w układzie analogicznym jak powyżej. z tą różnicą że pomiaru dokonujemy na zakresie prądowym. Dzieląc sygnał z detektora przez sygnał z termopary (proporcjonalny do mocy promieniowania monochromatycznego) uzyskujemy rozkład czułości detektora. Porównujemy dugofalową granicę czułości z położeniem krawędzi absorpcji dla materiału z którego została wykonana fotodioda.
Literatura:
1. Dryński T. Ćwiczenia laboratoryjne z fizyki, PWN,
Warszawa, 1965.
2. Pankove J.I. Zjawiska optyczne w półprzewodnikach.
WNT, Warszawa, 1974.
3. Szalimowa K.W. Fizyka półprzewodników, PWN,
Warszawa,1974.